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      我們的服務(wù)


      元素分析
      測試項目 儀器 檢測范圍 樣品要求
      成分表面分析,價(jià)態(tài)分析,多層膜深度剖析  XPS 常規XPS,微區XPS分析,深度剖析XPS,XPS成像,ISS,UPS,變溫。原位反應表征  固體
      元素定量分析(ppb級) ICP-OES 除O、Cl、S、F和惰性氣體元素外的絕大多數元素 可溶固體、液體樣品。
      Hg(ppb級) 測汞儀 無(wú)需前處理可直接分析 固體
      元素定性和定量分析 波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀 O-U元素,ppm級;熔樣、粉碎、壓片制樣。 塊狀/粉末固體,液體。
      微區元素分析 SEM-EDS B-U元素 微量固體樣品
      有機及部分無(wú)機物CHONS定量分析 元素分析儀EA C、H、O、N、S元素,精度0.1%abs 固體樣品
      總有機碳/總無(wú)機碳TIC/總氮TNb測試 TOC分析儀 TC、TOC、TIC、TNb,精度C≤1% 水樣
      組分分析
      測試項目 儀器 檢測范圍 樣品要求
      有機成分的定性定量分析 高效液相色譜儀 單糖、有機組分,ppm 能溶解的固體、液體
      陽(yáng)離子、陰離子定性、定量分析,單糖、低聚糖分析,滴定。 離子色譜系統 離子濃度,糖分析,滴定 液體
      原位變壓、變溫反應,電化學(xué)反應;透射,漫反射,鏡面反射。對有機化合物定性分析。 原位FTIR 溫度范圍:-150~600℃;壓力范圍: 不同測試項目要求不同形態(tài)
      有機化合物氣相色譜分離和定性定量質(zhì)譜分析,裂解、燃燒產(chǎn)物分析 PY-GC-MS、GC-MS 裂解:室溫~1400℃,升溫速率:10~20000℃/s 氣體、低沸點(diǎn)液體,固體、液體裂解
      熒光、磷光、生物或化學(xué)發(fā)光,成分定性定量分析 熒光分光光度計 波長(cháng):200~900nm 固體、液體
      光譜性能分析,成分、濃度定量分析 紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計 波長(cháng):190~3300nm 固體、薄膜、液體
      拉曼光譜測定,拉曼光譜分布(Mapping),物質(zhì)組分、結構、應力分析 激光拉曼光譜儀 532、633、325nm激光器,冷熱臺(-190~650℃) 固體、液體、氣體
      各類(lèi)氣體(如煉廠(chǎng)氣、可燃氣、廢氣等)或低分子易揮發(fā)有機物的成分和熱值分析 氣相色譜分析系統 FID、TCD檢測器,多色譜柱系統 氣體,低沸點(diǎn)液體
      水質(zhì)分析 水分、水質(zhì)分析儀 水份、COD、氨氮、六價(jià)鉻、TOC、總氮 液體
      水份、揮發(fā)分、灰分、固定碳 工業(yè)分析系統 生物質(zhì)、固體廢棄物等 固體、液體
      微形貌和結構表征
      測試項目 儀器 檢測范圍 樣品要求
      物相、晶體顆粒度分析,冷、熱相變原位分析,薄膜物相、厚度分析 X射線(xiàn)衍射系統 顆粒度10~100nm,-190~1200℃變溫,常規、小角散射 塊狀固體、粉末、薄膜
      表面形貌觀(guān)察與分析,微區元素分析 冷場(chǎng)發(fā)射高分辨掃描電鏡 最高分辨率1nm,最高放大倍數80萬(wàn) 塊狀固體、粉末
      1H,13C,19F, 15N-31P譜圖分析,結構分析 400MHz液體核磁共振波譜儀 變溫實(shí)驗:-150℃~150℃ 液體或可溶解固體(結構不改變)
      1H,13C,19F, 15N-31P譜圖分析,結構分析 300MHz寬腔固體核磁共振波譜儀 變溫實(shí)驗:-150℃~150℃ 固體
      材料物性分析
      測試項目 儀器 檢測范圍 樣品要求
      真實(shí)密度、真實(shí)體積,振實(shí)密度、振實(shí)體積 真實(shí)密度計、振實(shí)密度計 真實(shí)密度計分辨率:0.0001g/cc 粉末或塊狀固體,液體
      比表面積(BET)、總孔容、孔分布、平均孔徑及孔隙率等 比表面積與孔徑分析系統,壓汞儀 微孔、介孔、大孔 粉末或塊狀固體
      程序升溫氧化/還原/吸脫附反應;脈沖滴定、金屬分散度、活性金屬表面積和酸/堿性位點(diǎn)等;水蒸汽及簡(jiǎn)單有機蒸汽吸附特性等 化學(xué)吸附系統 高溫爐溫度范圍:室溫~1100℃,質(zhì)譜定性 粉末或塊狀固體
      粒度尺寸、粒度分布、Zeta電位值等 微/納米激光粒度儀 微米級、納米級粒度分析 懸濁液、乳液
      霍爾系數、阻抗、載流子濃度和遷移率;介電常數、低導熱系數、灰熔點(diǎn) 變溫霍爾系數測試系統、導熱系數儀、介電常數儀等 測試溫度最高達1073K;電阻:0.5mΩ~100GΩ;導熱系數0.005~0.50 W/m·K 固體、液體
      材料受熱的TG、DSC、DTA分析,熱反應過(guò)程分析及產(chǎn)物鑒別,灰分、比熱、熔點(diǎn)、玻璃化溫度 同步熱分析儀紅外質(zhì)譜聯(lián)用系統,熱重紅外聯(lián)用系統 室溫~1500℃ 固體
      高/低位收到基或干基熱值 熱值測量系統 測試多個(gè)參數獲得熱值 固體、液體
      材料吸收率/反射率 紅外光譜儀/紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計 波段從中紅外到紫外 固體
      太陽(yáng)光模擬,IV曲線(xiàn)測試,太陽(yáng)能電池、光電材料特性測試,升溫化學(xué)測試。 太陽(yáng)能模擬器-電化學(xué)工作站 550W Class AAA級別太陽(yáng)能模擬器 固體、液體

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